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參數分析儀

簡要描述:使用 4200A-SCS參數分析儀(參數測試儀)加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能較好的電學特性參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

  • 產品型號:4200A-SCS
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2022-03-31
  • 訪  問  量:1094

詳細介紹

品牌泰克產地類別進口
應用領域電子

一,產品概述

參數查看,快速清晰。

推進大膽發現從未如此容易。4200A-SCS 參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50%,從而實現測量和分析能力。此外,嵌入式測量知識提供測試指導,并讓您對終結果充滿信息。

特點

  • 用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的測量硬件

  • 立即使用 Clarius 軟件中所含的數百種用戶可修改應用程序測試開始測試

  • 自動實時參數提取、數據繪圖、分析函數

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的 C-V 表征

使用吉時利的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利的 CVU 架構中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。

特點

  • 同類產品中個能夠驅動1 V AC 電源電壓的 CV 表

  • 1 kHz 頻率,分辨率從1 kHz 到 10 MHz

  • 測量電容、電導和導納

  • 使用 4200A-CVIV 多路開關多可測量四個通道

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測量、 切換、 重復。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

特點

  • 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

  • 用戶可配置低電流功能

  • 個性化輸出通道名稱

  • 查看實時測試狀態

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穩定的低電流測量,適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊,Keithley 可確保您獲得的低電流測量,而停機時間很少甚至沒有。

特點

  • 不必將儀器送回工廠即可增加 SMU

  • 進行 飛安測量

  • 多達 9 個 SMU 通道

  • 針對長電纜或大卡盤進行了優化

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點

  • “"測試定序

  • “手動"探測器模式測試探測器功能

  • 假探測器模式無需移除命令即可實現調試

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二,產品選型


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