一，產(chǎn)品概述

兩臺(tái) DMM7510 內(nèi)置在一個(gè)緊湊型機(jī)箱中

DMM7512 由兩個(gè)彼此獨(dú)立的相同 7? 位 DMM7510 數(shù)字萬用表 (DMM) 組成，相比 DMM7510 具有更多測量功能。兩個(gè) DMM7512 數(shù)字萬用表具有與 DMM7510 相同的精度、靈敏度和速度，因此 DMM7512 可以無縫集成到以前采用 DMM7510 的測試系統(tǒng)中。

特點(diǎn)

• 使用速度為 1M 采樣/秒的 18 位數(shù)字化儀對復(fù)雜波形進(jìn)行采樣；存儲(chǔ)高達(dá) 2750 萬個(gè)讀數(shù)

• 以 0.1 μΩ 和 1 pA 靈敏度測試用于低功率電路中的組件

• 使用高達(dá) 14 ppm 的 1 年期精度直流電壓，通過高測試不確定度比率實(shí)現(xiàn)測試質(zhì)量

• 內(nèi)置測試腳本處理器 (TSP®) 可在無需控制器交互的情況下執(zhí)行測試序列，從而減少測試時(shí)間和通信開銷，同時(shí)利用控制器執(zhí)行其他任務(wù)

在 1U 高機(jī)架空間內(nèi)使用兩個(gè) DMM，節(jié)省寶貴的機(jī)架空間。與兩臺(tái) 2U 高 DMM7510 相比，您可以在一半的空間內(nèi)獲得兩倍的測量能力。

特點(diǎn)

• 將源和測量與 2606B 高密度 4 通道源測量單元 (SMU) 和 DMM7512 相結(jié)合，可實(shí)現(xiàn) 4 通道采樣和 2 通道測量功能，而占用的機(jī)架空間僅為 2U

• 無需在 DMM7512 或 2606B 之間提供額外空間以用于熱管理

雙測試系統(tǒng)密度

在 1U 高機(jī)架空間內(nèi)使用兩個(gè) DMM，節(jié)省寶貴的機(jī)架空間。與兩臺(tái) 2U 高 DMM7510 相比，您可以在一半的空間內(nèi)獲得兩倍的測量能力。

特點(diǎn)

• 將源和測量與 2606B 高密度 4 通道源測量單元 (SMU) 和 DMM7512 相結(jié)合，可實(shí)現(xiàn) 4 通道采樣和 2 通道測量功能，而占用的機(jī)架空間僅為 2U

• 無需在 DMM7512 或 2606B 之間提供額外空間以用于熱管理

• 
  

顯著縮短測試時(shí)間

每臺(tái) DMM7512 中的兩個(gè) DMM 具有內(nèi)置智能，可以使用其測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)在無需 PC 交互的情況下執(zhí)行測試程序。此外，每個(gè) DMM 都具有 TSP-Link® 硬件接口，因此一臺(tái)儀器可以控制主從配置中的其他儀器。

特點(diǎn)

• 在 TSP-Link 測試系統(tǒng)中多可控制 32 臺(tái)儀器

• 以低于 500 ns 的延遲同步測量值

• 消除儀器和 PC 之間耗時(shí)的通信

• DMM7512 TSP 代碼與 DMM7510 TSP 代碼兼容

二，產(chǎn)品選型